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GB T 31358-2015
1
前言
4
1 范围
6
2 规范性引用文件
6
3 术语和定义
6
4 分类
8
4.1 按波长分类
8
4.2 按半导体芯片衬底材料分类
8
4.3 按激励方式分类
9
4.4 按照输出模式分类
9
4.5 按照用途分类
9
4.6 按激光芯片出光方向分类
9
4.7 按封装方式分类
9
4.8 按工作方式分类
9
4.9 按冷却方式分类
9
4.10 按发光单元排列方式分类
9
4.11 按功率分类
9
4.12 按能量分类
9
5 技术要求
9
5.1 外观质量要求
9
5.2 性能、结构和使用条件要求
10
5.3 环境适应性要求
11
5.4 寿命要求
12
5.5 安全要求
12
6 测试要求
13
6.1 一般要求
13
6.2 外观检查
13
6.3 性能和结构参数测试
13
6.4 环境适应性测试
13
6.5 寿命模式
14
6.6 安全测试
14
7 检验规则
14
7.1 总则
14
7.2 检验分类
14
7.3 批的组成
14
7.4 抽样方案及及格判定
14
7.5 检验分组
15
7.6 型式检验
16
7.7 逐批检验
16
7.8 周期检验
16
8 标志、包装、运输和贮存
17
8.1 标志
17
8.2 包装
17
8.3 运输和贮存
17
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