• GB T 31358-2015
  • 前言
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 分类
  • 4.1 按波长分类
  • 4.2 按半导体芯片衬底材料分类
  • 4.3 按激励方式分类
  • 4.4 按照输出模式分类
  • 4.5 按照用途分类
  • 4.6 按激光芯片出光方向分类
  • 4.7 按封装方式分类
  • 4.8 按工作方式分类
  • 4.9 按冷却方式分类
  • 4.10 按发光单元排列方式分类
  • 4.11 按功率分类
  • 4.12 按能量分类
  • 5 技术要求
  • 5.1 外观质量要求
  • 5.2 性能、结构和使用条件要求
  • 5.3 环境适应性要求
  • 5.4 寿命要求
  • 5.5 安全要求
  • 6 测试要求
  • 6.1 一般要求
  • 6.2 外观检查
  • 6.3 性能和结构参数测试
  • 6.4 环境适应性测试
  • 6.5 寿命模式
  • 6.6 安全测试
  • 7 检验规则
  • 7.1 总则
  • 7.2 检验分类
  • 7.3 批的组成
  • 7.4 抽样方案及及格判定
  • 7.5 检验分组
  • 7.6 型式检验
  • 7.7 逐批检验
  • 7.8 周期检验
  • 8 标志、包装、运输和贮存
  • 8.1 标志
  • 8.2 包装
  • 8.3 运输和贮存