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微信扫一扫- 简介
- 目录
DL/T1801-2018
1
1 范围
5
2 规范性引用文件
5
3 术语和定义
5
4 人员
8
5 监测系统
8
5.1 检测仪器
8
5.2 相控阵探头
8
5.3 扫查装置
8
5.4 试块
9
5.5 仪器、探头、系统校准
10
6 检测技术等级
10
6.1 检测技术等级分类
10
6.2 检测技术等级要求
10
7 检测准备
11
7.1 检测区域
11
7.2 扫查区
11
7.3 扫查与扫描方式
11
7.4 检测区域覆盖
11
7.5 不同接头型式的扫查要求
12
7.6 探头及楔块选择
14
7.7 耦合
14
7.8 耦合监控
14
7.9 检测温度
14
7.10 母材检测
14
7.11 识别
14
8 检测温度
15
8.1 扇形扫描设置
15
8.2 线性扫描设置
15
8.3 扫查分区
15
8.4 S值的计算
15
8.5 扫查步进
16
8.6 聚焦
16
8.7 基准灵敏度
16
8.8 扫查灵敏度
16
8.9 位置传感器校准
17
8.10 检测系统复核
17
9 检测
17
10 检测数据分析和缺欠测量
18
10.1 检测数据有效性评价
18
10.2 缺欠识别与测量
18
11 缺欠评定
19
11.1 不记录缺欠
19
11.2 不允许存在的缺欠
19
11.3 允许存在缺欠评定
19
12 检测记录和报告
20
12.1 检测记录
20
12.2 检测报告
20
附录A（资料性附录） 常用金属材料
22
附录B（规范性附录） 相控阵探头晶片灵敏度差异与有效性测试
23
附录C（规范性附录） 对比试块形状和尺寸
24
附录D（规范性附录） 横向缺欠检测
25
附录E（资料性附录） 相控阵超声检测报告格式
26
参考文献
27
图书评论
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