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GB-T5202-2008
1
1 范围
5
2 规范性引用文件
5
3 术语和定义
6
4 单位
8
5 仪器分类
9
6 一般特性
9
6.1 探测装置
9
6.2 易于去污
9
6.3 密封
9
6.4 报警阈
9
6.5 仪器指示值
10
6.6 有效测量范围
10
6.7 显示
10
6.8 机械冲击
10
6.9 电子设备的调整和维护附件
10
7 一般试验方法
10
7.1 试验
10
7.2 概述
11
7.3 本底
11
7.4 统计涨落
11
8 电气特性
12
8.1 统计涨落
12
8.2 响应时间
12
8.3 响应时间与统计涨落之间的关系
13
8.4 报警阈漂移
13
8.5 （便携式仪器的）预热时间试验
13
8.6 分辨时间
14
8.7 过载保护
14
8.8 工作坪（仅对于探测装置）
15
8.9 阈值（仅对于探测装置）
15
9 辐射特性
15
9.1 概述
15
9.2 仪器效率
15
9.3 探测器表面的响应变化
16
9.4 相对固有误差
16
9.5 表面发射率响应随辐射能量的变化
17
9.6 对其他电离辐射的响应
18
9.7 本底计数率
19
10 环境影响
19
10.1 环境温度
19
10.2 相对湿度
20
10.3 电源
20
10.4 电磁兼容性
22
11 贮存
23
12 文件
23
12.1 合格证书
23
表1 参考条件和标准试验条件
24
表2 标准试验条件下进行的试验
25
表3 改变影响量的试验
25
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