• GB-T5202-2008
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 单位
  • 5 仪器分类
  • 6 一般特性
  • 6.1 探测装置
  • 6.2 易于去污
  • 6.3 密封
  • 6.4 报警阈
  • 6.5 仪器指示值
  • 6.6 有效测量范围
  • 6.7 显示
  • 6.8 机械冲击
  • 6.9 电子设备的调整和维护附件
  • 7 一般试验方法
  • 7.1 试验
  • 7.2 概述
  • 7.3 本底
  • 7.4 统计涨落
  • 8 电气特性
  • 8.1 统计涨落
  • 8.2 响应时间
  • 8.3 响应时间与统计涨落之间的关系
  • 8.4 报警阈漂移
  • 8.5 (便携式仪器的)预热时间试验
  • 8.6 分辨时间
  • 8.7 过载保护
  • 8.8 工作坪(仅对于探测装置)
  • 8.9 阈值(仅对于探测装置)
  • 9 辐射特性
  • 9.1 概述
  • 9.2 仪器效率
  • 9.3 探测器表面的响应变化
  • 9.4 相对固有误差
  • 9.5 表面发射率响应随辐射能量的变化
  • 9.6 对其他电离辐射的响应
  • 9.7 本底计数率
  • 10 环境影响
  • 10.1 环境温度
  • 10.2 相对湿度
  • 10.3 电源
  • 10.4 电磁兼容性
  • 11 贮存
  • 12 文件
  • 12.1 合格证书
  • 表1 参考条件和标准试验条件
  • 表2 标准试验条件下进行的试验
  • 表3 改变影响量的试验