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微信扫一扫- 简介
- 目录
GB-T11685-2003
1
1 范围
5
2 规范性引用文件
5
3 术语和定义
5
4 符号
8
5 一般原则
8
5.1 被测对象及其性能特性
8
5.2 测量设备
8
5.3 测量系统
8
5.4 测量条件
9
5.5 测量要求
10
6 能量分辨率和能谱畸变
10
6.1 概述
10
6.2 电噪声的测量
10
6.3 作为放大器时间常数函数的噪声线宽
12
6.4 能量分辨率
12
6.5 峰谷比和峰尾比
14
7 积分非线性
15
7.1 脉冲幅度分析法
15
7.2 电桥法
16
8 计数率效应
16
8.1 概述
16
8.2 能谱畸变
16
8.3 谱峰位偏移
17
8.4 谱的能量分辨率和谱线形状
18
8.5 谱峰计数损失
18
9 电压变化影响、温度效应和长时间不稳定性
19
9.1 概述
19
9.2 交流供电电压变化的影响
19
9.3 温度效应
20
9.4 长时间不稳定性
21
10 效率
21
10.1 概述
21
10.2 利用玻璃荧光源测量窗衰减（对能量低于5keV的X射线的推荐方法）
21
10.3 高能区效率测量
24
11 过载效应
27
11.1 概述
27
11.2 主放大器增益的恢复时间
27
附录A （资料性附录）从X能量分辨率计算电噪声近似值的方法
28
参考文献
29
图1 被测特性的基本测量系统
9
图2 典型的噪声测量脉冲幅度谱
11
图3 用示波器和均方根电压表测噪声的测量系统
12
图4 线性的测量和表示
16
图5 队计数率效应造成谱畸变的测量系统
17
图6 死时间为Td的系统的输出计数率γ0和输入计数率γ1的关系
18
图7 用单道分析器测量计数率损失的测量系统
18
图8 作为快速放大器计数率函数所分析的锰Ka和Kβ峰中的计数率
19
图9 温度效应的测量系统（以能谱仪为例）
20
图10 窗厚度测量装置（剖面）示意图
22
图11 环型55FeX射线放射源
22
图12 用8μm铍窗探测器测得的谱
23
图13 用132μm铍窗探测器测得的谱
23
图14 典型的扣除本底的谱线图
24
图15 窗指标WE与窗厚关系典型特征图
25
图16 241Am放射源低能γ射线和X射线能谱图
26
图17 高能区的相对效率曲线
26
图18 过载脉冲后增益恢复的例子
27
表1 参考条件和标准试验条件
9
表2 测量常用放射源
13
表3 标准玻璃的组分（质量分数）
21
表4 55Fe放射源激发标准玻璃得到的特征X射线
22
表5 241Am的衰变数据
24
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