• GB-T11685-2003
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 符号
  • 5 一般原则
  • 5.1 被测对象及其性能特性
  • 5.2 测量设备
  • 5.3 测量系统
  • 5.4 测量条件
  • 5.5 测量要求
  • 6 能量分辨率和能谱畸变
  • 6.1 概述
  • 6.2 电噪声的测量
  • 6.3 作为放大器时间常数函数的噪声线宽
  • 6.4 能量分辨率
  • 6.5 峰谷比和峰尾比
  • 7 积分非线性
  • 7.1 脉冲幅度分析法
  • 7.2 电桥法
  • 8 计数率效应
  • 8.1 概述
  • 8.2 能谱畸变
  • 8.3 谱峰位偏移
  • 8.4 谱的能量分辨率和谱线形状
  • 8.5 谱峰计数损失
  • 9 电压变化影响、温度效应和长时间不稳定性
  • 9.1 概述
  • 9.2 交流供电电压变化的影响
  • 9.3 温度效应
  • 9.4 长时间不稳定性
  • 10 效率
  • 10.1 概述
  • 10.2 利用玻璃荧光源测量窗衰减（对能量低于5keV的X射线的推荐方法）
  • 10.3 高能区效率测量
  • 11 过载效应
  • 11.1 概述
  • 11.2 主放大器增益的恢复时间
  • 附录A （资料性附录）从X能量分辨率计算电噪声近似值的方法
  • 参考文献
  • 图1 被测特性的基本测量系统
  • 图2 典型的噪声测量脉冲幅度谱
  • 图3 用示波器和均方根电压表测噪声的测量系统
  • 图4 线性的测量和表示
  • 图5 队计数率效应造成谱畸变的测量系统
  • 图6 死时间为Td的系统的输出计数率γ0和输入计数率γ1的关系
  • 图7 用单道分析器测量计数率损失的测量系统
  • 图8 作为快速放大器计数率函数所分析的锰Ka和Kβ峰中的计数率
  • 图9 温度效应的测量系统（以能谱仪为例）
  • 图10 窗厚度测量装置（剖面）示意图
  • 图11 环型55FeX射线放射源
  • 图12 用8μm铍窗探测器测得的谱
  • 图13 用132μm铍窗探测器测得的谱
  • 图14 典型的扣除本底的谱线图
  • 图15 窗指标WE与窗厚关系典型特征图
  • 图16 241Am放射源低能γ射线和X射线能谱图
  • 图17 高能区的相对效率曲线
  • 图18 过载脉冲后增益恢复的例子
  • 表1 参考条件和标准试验条件
  • 表2 测量常用放射源
  • 表3 标准玻璃的组分（质量分数）
  • 表4 55Fe放射源激发标准玻璃得到的特征X射线
  • 表5 241Am的衰变数据