NB/T47013.3-2015:承压设备无损检测第3部分:超声检测现行
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NB/T 47013.3-2015
《承压设备无损检测 第3部分:超声检测》
第1号修改单
本修改单经国家能源局于2018年5月14日以第7号公告批准,自2018年7月1日起实施。
1 5.3.3.1.1条改用新条文:
5.3.3.1.1 “直探头选用一般应按表3的规定进行。在满足5.3条规定的灵敏度及缺陷判定的基础上,也可以选用其他型式的探头,如双晶直探头或多晶直探头(含板材厚度>60mm时)。”
2 5.3.9.2 第一行中更改质量分级级别:
“Ⅴ级”更改为“Ⅳ级”。
3 表6更改为新表6:
新表6 承压设备用板材中部检测区域质量分级
等级 | 最大允许单个缺陷指示面积S或当量平底孔直径D | 在任一1m×1m检测面积内缺陷最大允许个数 | |
单个缺陷指示面积或 当量平底孔直径评定范围 | 最大允许个数 | ||
TI | 双晶直探头检测时: S≤50mm2 | 双晶直探头检测时:20mm2<S≤50mm2 | 10 |
或单晶直探头检测时: D≤ | 或单晶直探头检测时:
| ||
I | 双晶直探头检测时:S≤100mm2 | 双晶直探头检测时:50mm2<S≤100mm2 | 10 |
或单晶直探头检测时: D≤ | 或单晶直探头检测时:
| ||
II | S≤1000mm2 | 100mm2<S≤1000mm2 | 15 |
III | S≤5000mm2 | 1000mm2<S≤5000mm2 | 20 |
IV | 超过Ⅲ级者 | ||
注:使用单晶直探头检测并确定5.3.7.1 b)所示缺陷的质量分级(T I级和Ⅰ级)时,与双晶直探头要求相同。 |
4 表7更改为新表7:
新表7 承压设备用板材边缘或剖口预定线两侧检测区域质量分级
等级 | 最大允许单个缺陷指示长度Lmax | 最大允许单个缺陷指示面积S或 当量平底孔直径D | 在任一1m检测长度内最大允许缺陷个数 | |
单个缺陷指示长度L或 当量平底孔直径评定范围 | 最大允许个数 | |||
TI | ≤20mm | 双晶直探头检测时: S≤50mm2 | 双晶直探头检测时: 10mm<L≤20mm | 2 |
或单晶直探头检测时: D≤ | 或单晶直探头检测时:
| |||
I | ≤30mm | 双晶直探头检测时: S≤100mm2 | 双晶直探头检测时: 15mm<L≤30mm | 3 |
或单晶直探头检测时: D≤ | 或单晶直探头检测时:
| |||
II | ≤50mm | S≤1000mm2 | 25mm<L≤50mm | 5 |
III | ≤100mm | S≤2000mm2 | 50mm<L≤100mm | 6 |
IV | 超过Ⅲ级者 | |||
注:使用单晶直探头检测并确定5.3.7.1 b)所示缺陷的质量分级(TI级和Ⅰ级)时,与双晶直探头要求相同。 |
5 将5.6.4.1条中的“轴向”二字删除。
6 将5.6.4.2条中的“轴向”二字删除。
7 8.4.6.2.3.1 b)条改用新条文:8.4.6.2.3.1 b)“工件厚度t>15mm时,缺陷指示长度应大于等于t/2或15mm(取大者,但最大为30mm)。”
8 附录J的表J.1更改为新表J.1:
新表J.1 RB-L系列对比试块尺寸(推荐) 单位为mm
RB-L编号 | 工件厚度t | 试块厚度T | 横孔深度位置 | 横孔直径 |
RB-L-1 | ≥6~10 | 8 | 4 |
|
RB-L-2 | >10~16 | 14 | 4、10 |
|
RB-L-3 | >16~24 | 20 | 5、10、15 |
|
RB-L-4 | >24~36 | 30 | 5、10、20、25 |
|
RB-L-5 | >36~50 | 45 | 5、10、20、30、40 |
|
注:工件厚度t大于50mm时,试块宽度应满足6.3.10.1的要求,横孔深度位置最小可为10mm,深度间隔不超过20mm,试块厚度与工件厚度之差不超过工件厚度的20%。 |
9 附录J的图J.1更改为新图J.1:
10 K.2.1条改用新条文:
K.2.1 “对比试块RB-C的形状和尺寸见图K.1。为方便试块加工和灵敏度调节,也可使用如表K.1和图K.2的试块。”
11 附录K的图K.1后补充表K.1和图K.2。
12 附录K的表K.1序号更改为表K.2。
13 K.3.2条改用新条文:
K.3.2“探头折射角(K值)的选择见表25,探头标称频率可按表K.2选择。”
14 K.5.1条改用新条文:
K.5.1“检测面的选择按表K.2进行。”
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