GB/T28893-2012:表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱测定峰强度的方法和报告结果所需的信息现行
资源类型:国家标准
发布日期:2012-11-05
实施日期:2013-06-01
废止日期:-
入库日期:2021-09-18
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- 简介
- 目录
GB/T28893-2012
1
1 范围
5
2 规范性引用文件
5
3 术语和定义
5
4 符号和缩略语
5
5 直接谱的峰强度测定方法
5
5.1 概述
5
5.2 非弹性本底的选择和扣除
6
5.3 峰强度的测量
7
5.3.1 峰高度的测量
7
5.3.2 峰面积的测量
7
5.4 用计算机软件测量峰强度
8
5.5 重叠峰谱图的峰强度测量
8
5.6 峰面积测量的不确定度
8
6 俄歇电子微分谱的峰强度测定方法
9
6.1 概要
9
6.2 俄歇电子微分谱强度的测量
9
6.3 俄歇电子微分谱强度测量的不确定度
10
7 测量峰强度方法的报告
10
7.1 一般要求
10
7.2 测定直接谱峰强度的方法
10
7.2.1 单峰的强度测量
10
7.2.2 拟合峰的强度测量
10
7.3 获得和测定俄歇电子微分谱峰强度的方法
11
7.3.1 获得微分谱的方法
11
7.3.2 测定峰强度的方法
11
附录A (资料性附录) 仪器对测量强度的影响
12
参考文献
13
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