GB/T38532-2020:微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定现行
资源类型:国家标准
发布日期:2020-03-06
实施日期:2021-02-01
废止日期:-
入库日期:2021-08-25
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- 简介
- 目录
GB-T38532-2020
1
1 范围
5
2 规范性引用文件
5
3 术语和定义
5
3.1 与EBSD晶粒尺寸测量相关的术语
5
3.2 EBSD测定的与晶粒和晶界有关的术语
7
3.3 晶粒尺寸测定相关术语
8
3.4 与数据修正和EBSD取向图不确定度有关的术语
9
4 用于晶粒尺寸测定的EBSD图像的获取
9
4.1 硬件要求
9
4.2 软件要求
9
5 测量EBSD晶粒尺寸的图像采集
9
5.1 样品制备
9
5.2 确定样品轴
10
5.3 样品台定位和校准
10
5.4 线性校正
10
5.5 初步检查
10
5.6 步长选择
10
5.7 所需角精度水平的确定
10
5.8 分析区域和图像尺寸的选择
12
5.9 测量塑性变形材料时的注意事项
12
6 分析过程
13
6.1 晶界的确定
13
6.2 原始数据的后处理
13
6.3 数据清理步骤
14
6.4 晶粒尺寸的测量
17
6.5 数据的发布
17
7 测量不确定度
17
8 分析结果的报告
18
附录A(资料性附录)晶粒尺寸的测量
19
参考文献
21
图书评论
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