GB/T22586-2018:电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻现行
资源类型:国家标准
发布日期:2018-03-15
实施日期:2018-10-01
废止日期:-
入库日期:2019-07-01
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- 简介
- 目录
GBT22586-2018
1
1 范围
6
2 规范性引用文件
6
3 术语和定义
6
4 要求
6
5 装置
7
5.1 测试系统
7
5.2 Rs测试腔体
7
5.3 介质柱
8
6 测试步骤
9
6.1 样品准备
9
6.2 系统构建
9
6.3 参考电平的测试
10
6.4 谐振器频响特性的测试
10
6.5 超导薄膜的表面电阻Rs、标准蓝宝石柱的ε'和tanδ的确定
11
7 测试方法的精密度和精确度
12
7.1 表面电阻
12
7.2 温度
13
7.3 样品和支撑结构
13
7.4 样品的保护
14
8 测试报告
14
8.1 被测样品的标识
14
8.2 Rs值报告
14
8.3 测试条件报告
14
附录A(资料性附录) 与第1章~第8章相关的附加资料
15
附录B(规范性附录) 改进型镜像介质谐振器法
24
附录C(资料性附录) 与附录B相关的附加资料
30
参考文献
33
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