• GBT20438.6-20061
  • 目次
  • 前言
  • 引言
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 定义和缩略语
  • 附录A (资料性附录) GB/ T 20438.2 和GB/T 20438.3的应用
  • 附录B (资料性附录) 硬件失效概率评估技术示例
  • 附录C (资料性附录) 诊断覆盖率和安全失效分数的计算: 工作示例
  • 附录D (资料性附录) 量化E/ E/ PE 系统中硬件共同原因失效效应的方法
  • 附录E (资料性附录) GB/ T 20438.3 中软件安全完整性表的应用示例
  • 参考文献
  • 表B.l 本附录中使用的术语及其范围(应用于1oo1 、1oo2 、2oo2 、1oo2D 、2oo3)
  • 表B.2 检验测试时间间隔为6个月、平均恢复时间8h时要求的平均失效概率
  • 表B.3 检验测试时间间隔为1 年、平均恢复时间为8 h 时要求的平均失效概率
  • 表B.4 检验测试时间间隔为2 年、平均恢复时间为8 h 时要求的平均失效概率
  • 表B.5 检验测试时间间隔为10 年、平均恢复时间为8 h 时'要求的平均失效概率
  • 表B.6 低要求操作模式示例中传感器子系统在要求时的平均失效概率(检验测试时间间隔为1 年， MTTR 为8 h)
  • 表B.7 低要求操作模式示例中逻辑子系统在要求时的平均失效概率(检验测试时间间隔为1 年， MTTR 为8 h)
  • 表B.8 低要求操作模式示例中最终元件子系统在要求时的平均失效概率(检验测试时间间隔为1 年， MTTR 为8 h)
  • 表B.9 不完善检验测试的示例
  • 表B.10 检验测试时间间隔为1 个月，平均恢复时间为8 h 时每小时的平均失效概率
  • 表B.11 检测测试时间间隔为3 个月，平均恢复时间为8 h 时每小时的平均失效概率
  • 表B.12 检验测试时间间隔为6 个月，平均恢复时间为8 h 时每小时的平均失效概率
  • 表B.13 检验测试时间间隔为1 年以及平均恢复时间为8 h 时-每小时的平均失效概率
  • 表B.14 高要求或连续操作模式结构示例中传感器子系统每小时的失效概率
  • 表B.15 高要求或连续操作模式结构示例中逻辑子系统每小时的失效概率
  • 表B.16 高要求或连续操作模式结构示例中最终元件子系统每小时的失效概率
  • 表C.1 计算诊断覆盖率和安全失效分数示例
  • 表C.2 不同子系统的诊断覆盖率和有效性
  • 表D.l 可编程电子或传感器或最终元件的评分
  • 表D.2 Z 的值:可编程电子
  • 表D.3 Z 的值: 传感器或最终元件
  • 表D.4 β和βD的计算
  • 表D.5 可编程电子的示例值
  • 表E.1 软件安全要求规范(见GB/ T 20438 .3- 2006 的7.2)
  • 表E.2 软件设计与开发: 软件结构设计(见GB/ T 20438.3 -2006的7.4 .3)
  • 表E.3 软件设计与开发:支持工具和编程语言(见GB/T 20438.3 -2006 的7.4.4)
  • 表E.4 软件设计与开发:详细设计(见GB/ T 20438 .3 -2006 的7.4 .5 及7.4 .6)
  • 表E.5 软件设计与开发:软件模型测试和集成( 见GB/ T 20438.3 -2006 的7.4.7 及7.4.8)
  • 表E.6 可编程电子集成(硬件和软件) ( 见GB/ T 20438.3 - 2006 的7.5)
  • 表E.7 软件安全确认(见GB/ T 20438.3一2006 的7.7)
  • 表E.8 软件修改(见GB/ T 20438.3-2006 的7.8）
  • 表E.9 软件验证(见GB/ T 20438.3 -2006 的7.9)
  • 表E.10 功能安全评估(见GB/ T 20438.3- 2006 的第8 章)
  • 表E.11 软件安全要求规范(见GB / T 20438. 3- 2006 的7.2)
  • 表E.12 软件设计与开发:软件结构设计( 见GB/ T 20438.3 -2006 的7.4.3)
  • 表E.13 软件设计与开发: 支持工具及编程语言( 见GB/ T 20438. 3-2006 的7.4.4)
  • 表E.14 软件设计与开发: 详细设计(见GB/ T 20438.3-2006 的7.4.5 和7.4.6)
  • 表E.15 软件设计与开发: 软件模块测试和集成(见GB/ T 20438.3 -2006 的7.4.7和7.4.8)
  • 表E.16 可编程电子集成(硬件和软件) ( 见GB/ T 20438.3 - 2006 的7.5)
  • 表E.17 软件安全确认( 见GB/ T 20438.3 -2006 的7.7)
  • 表E.18 修改(见GB/ T 20438.3-2006 的7.8）
  • 表E.19 软件的确认(见GB/ T 20438.3 -2006 的7.9）
  • 表E.20 功能安全评估(见GB/ T 20438.3- 2006 的第8 章)
  • 图1 GB/ T 20438 的总体框架
  • 图A.1 GB/ T 20438. 2 的应用
  • 图A.2 GB/ T 20438. 2 的应用
  • 图A.3 GB/ T 20438. 3 的应用
  • 图B.1 两个传感器通道配置示例
  • 图B.2 子系统结构
  • 图B.3 1oo1 物理块图
  • 图B.4 1oo1 可靠性块图
  • 图B.5 1oo2 物理块图
  • 图B.6 1oo2 可靠性块图
  • 图B.7 2oo2 物理块图
  • 图B.8 2oo2 可靠性块图
  • 图B.9 1oo2 D 物理块图
  • 图B.10 1oo2 D 可靠性块图
  • 图B.11 2oo3 物理块图
  • 图B.12 2oo3 可靠性块图
  • 图B.13 低要求操作模式结构示例
  • 图B.14 高要求或连续操作模式的结构示例
  • 图D.1 各个通道失效与共同原因失效的关系