• HJ780-2015
  • 1 适用范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 方法原理
  • 4 干扰和消除
  • 5 试剂和材料
  • 6 仪器和设备
  • 7 样品
  • 8 分析步骤
  • 9 结果计算与表示
  • 10 精密度和准确度
  • 11 质量保证和质量控制
  • 12 注意事项
  • 附录A（规范性附录）方法检出限和测定下限
  • 附录B（资料性附录）基体效应校正、谱线重叠干扰情况
  • 附录C（资料性附录）分析仪器参考条件
  • 附录D（资料性附录）测定元素校准曲线范围
  • 附录E（资料性附录）方法的精密度和准确度汇总数据