SY/T4109-2013
1 总则
2 术语
3 基本规定
3.1 一般要求
3.2 检测单位责任
3.3 无损检测工艺规程
3.4 元损检测人员
4 射线检测
4.1 辐射防护
4.2 射线照相胶片
4.3 增感屏
4.4 像质计
4.5 观片灯
4.6 黑度计和标准黑度片
4.7 检测标识
4.8 表面状态
4.9 透照方式
4.10 透照几何条件
4.11 分段透照要求
4.12 像质计的放置和识别
4.13 曝光参数
4.14 无用射线和散射线的屏蔽
4.15 胶片处理
4.16 评片要求
4.17 底片质量
4.18 质量分级
4.19 射线检测报告
5 射线数字成像检测
5.1 辐射防护
5.2 检测系统
5.3 系统分辨率
5.4 线型像质计
5.5 透照方式
5 6 透照几何条件
5.7 一次透照长度
5.8 表面状态
5.9 线型像质计的放置和识别
5.10 检测标识
5.11 曝光参数
5.12 图像分辨率的测定
5.13 几何尺寸标定
5.14 图像质量及评定
5.15 质量分级
5.16 数据存储
5.17 检测报告
6 超声检测
6.1 超声检测设备
6.2 超声探头
6.3 超声试块
6.4 稠合剂
6.5 距离校幅刷线
6.6 系统校准和复核
6.7 检测准备
6.8 现场检测
6.9 质量分级
6.10 检测报告
7 磁粉检测
7.1 磁粉检测方法
7.2 磁粉检测设备
7.3 标准试片
7.4 辅助器材
7.5 磁粉、载体及磁悬液
7.6 校验
7.7 检测范闱
7.8 检测准备
7.9 检测技术要求
7.10 复验
7.11 验收标准
7.12 磁粉检测报告
8 渗透检测
8.1 检测方法
8.2 检测材料
8.3 试块
8.4 检测灵敏度
8.5 安全防护
8.6 检测范围
8.7 表面要求
8.8 检测技术要求
8.9 复验
8.10 验收标准
8.11 渗透检测报告
附录A 胶片系统特性指标
附录B 黑度计（光学密度计）定期校验方法
附录C 环向对接焊接接透照次数确定方法
附录D 检测报告格式
附录E 双线型像质计
附录F 系统分辨率测定
附录G 平面成像最少透照次数的确定方法
附录H 射线数字成像检测曝光曲线的制作
附录I 几何尺寸标定
附录J 超声试块的型式和规格
附录K 表面声能损失差的测定
附录L 对比试块的使用及根部缺欠检测灵敏度
附录M A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法
附录N 非标准温度下的检测规范的确认
标准用词说明
引用标准名录
附件 石油天然气钢质管道无损检测条文说明
1 总则
2 术语
3 基本规定
3.1 使用原则
3.2 检测单位责任
3.3 无损检测工艺规程
3.4 无损检测人员
4 射线检测
4.1 辐射防护
4.2 射线照相胶片
4.3 增感屏
4.4 像质计
4.5 观片灯
4.6 黑度计和标准黑度片
4.7 检测标识
4.8 表面状态
4.9 透照方式
4.10 透照几何条件
4.11 分段透照要求
4.12 像质计的放置和识别
4.13 曝光参数
4.14 元用射线和散射线的屏蔽
4.15 胶片处理
4.16 评片要求
4.17 底片质量
4.18 质量分级
5 射线数字成像检测
5.1 辐射防护
5.2 检测系统
5.3 系统分辨率
5.4 线型像质计
5.5 透照方式
5.6 透照几何条件
5.7 一次透照长度
5.8 表面状态
5.9 线型像质计的放置和识别
5.10 检测标识
5.11 曝光参数
5.12 图像分辨率的测定
5.13几何尺寸标定
5.14 图像质量及评定
5.15 质量分级
5.16 数据存
5.17 检测报告
6 超声检测
6.1 超声检测设备
6.2 超声探头
6.5 距离一波幅曲线
6.6 系统校准和复核
6 7 检测准备
6.8 现场检测
6.9 质量分级
7 磁粉检测
7.1 磁粉检测方法
7.2 磁粉检测设备
7.3 标准试片
7.5 磁粉、载体及磁悬液
7.6 校验
7.8 检测准备
7.9 检测技术要求
7.11 验收标准
8 渗透检测
8.1 检测方法
8.2 检测材料
8.3 试块
8.4 检测灵敏度
8.8 检测技术要求
8.10 验收标准
附录A 胶片系统特性指标
附录E 双线型像质计
附录F 系统分辨率测定
附录G 平面成像最少透照次数的确定方法
附录H 射线数字成像检测曝光曲线的制作
附录I 几何尺寸标定
