• GBT 22586-2008
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 要求
  • 5 装置
  • 5.1 测试系统
  • 5.2 R8测试腔体
  • 5.3 介质柱
  • 图1 使用制冷机测试Rs随温度变化特性的装置图
  • 图2 典型的Rs测试腔体示意图
  • 6 测试步骤
  • 6.1 样品准备
  • 6.2 系统构建
  • 6.3 参考电平的测试
  • 表1 12GHz、18GHz、22GHz时标准蓝宝石介质柱的典型尺寸
  • 表2 12GHz、18GHz、22GHz时超导薄膜的尺寸
  • 6.4 谐振器频响特性的测试
  • 图3 T(K)温度下的插入损耗IA谐振频率fo和半功率点带宽f
  • 6.5 超导薄膜的表面电阻Rs、标准蓝宝石柱的e和tana的确定
  • 图4 反射系数(S11和S22)
  • 7 测试方法的精密度和精确度
  • 7.1 表面电阻
  • 7.2 温度
  • 图5 表4中术语的定义
  • 表3 矢量网络分析仪的参数
  • 表4 蓝宝石介质柱参数
  • 7.3 样品和支撑结构
  • 7.4 样品的保护
  • 8 测试报告
  • 8.1 被测样品的标识
  • 8.2 Rs值报告
  • 8.3 测试条件报告
  • 附录A(资料性附录) 与第1章-第8章相关的附加资料
  • 图A.1 各种测量微波表面电阻Rs方法结构示意图
  • 图A.2 两端由两片沉积在介质基片上的超导薄膜短路圆柱形介质谐振器的几何结构
  • 图A.3 TE01p模式下的u-v和W-v关系的计算结果
  • 图A.4 测量Rs、tana的标准介质柱的电磁场结构
  • 图A.5 三种形式的谐振器的结构示意图
  • 图A.6 设计平行超导薄膜两端短路的TE011谐振器的模式图
  • 图A.7 设计平行超导薄膜两端短路的TE013谐振器的模式图
  • 图A.8 闭合式TE011谐振器的模式图
  • 图A.9 闭合式TE013谐振器的模式图
  • 参考文献