• GB/T41040-2021
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语、定义和缩略语
  • 3.1 术语和定义
  • 3.2 缩略语
  • 4 基本要求
  • 4.1 质量保证单位资质
  • 4.2 质量保证人员
  • 4.3 仪器设备管理与使用
  • 4.4 器件防护
  • 4.5 环境要求
  • 4.6 测试、试验有效性和覆盖性
  • 4.7 失效分析
  • 4.8 假冒翻新元器件控制计划
  • 4.9 信息数据库
  • 4.10 元器件贮存和超期复验
  • 5 技术要求
  • 5.1 通则
  • 5.2 需求分析
  • 5.3 评价试验要求
  • 5.4 破坏性物理分析（DPA）
  • 5.5 筛选试验
  • 5.6 鉴定试验
  • 5.7 质量保证结论确定
  • 5.8 应用控制
  • 附录A（资料性） COTS器件的试验等级和宇航任务应用
  • 附录B（资料性） 典型COTS器件筛选和鉴定试验（集成电路）
  • 附录C（资料性） 典型COTS器件筛选和鉴定试验（密封分立器件）
  • 附录D（资料性） 老炼试验设计注意事项
  • 参考文献