• GB/T33498-2017
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语、定义、符号和缩略语
  • 3.1 术语和定义
  • 3.2 符号和缩略语
  • 4 纳米结构材料的表面分析表征
  • 4.1 引言
  • 4.2 电子能谱(AES和XPS)
  • 4.3 离子束表面分析方法(SIMS和LEIS)
  • 4.4 扫描探针显微术
  • 4.5 碳纳米结构的表面表征
  • 5 纳米结构材料表征的分析考虑、问题与难题:给分析人员的信息
  • 5.1 引言
  • 5.2 总体考虑与分析难题
  • 5.3 物理性质
  • 5.4 颗粒的稳定性和损伤:尺寸、表面能量和能量标度会聚的影响
  • 5.5 样品安装和制备
  • 5.6 XPS、AES、SIMS和SPM分析纳米结构材料时的特定考虑
  • 6 纳米结构材料总体表征需求和机遇
  • 参考文献