• GB-T28544-2012
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 测量要求和测量系统
  • 4.1 测量的一般要求
  • 4.2 测量系统
  • 4.3 放射源
  • 5 测量方法
  • 5.1 为测定封装闪烁体参数而测量系统的非线性
  • 5.2 为测定封装闪烁体参数而测量系统的不稳定性
  • 5.3 用光电倍增管参数测量封装闪烁体的固有分辨率和光输出
  • 5.4 用比较法测量封装闪烁体的光输出
  • 5.5 用光电倍增管的光谱常数测定封装闪烁体的固有分辨率
  • 附录A （资料性附录）本标准与IEC62372：2006的章条编号变化对照
  • 附录B （资料性附录）本标准与IEC62372：2006的相应技术性差异及其原因
  • 附录C （资料性附录）封装闪烁体固有分辨率和光输出的另一种测量方法
  • 参考文献
  • 表1 放射源的选择
  • 表A.1 本标准与IEC62372：2006的章条编号变化对照一览表
  • 表B.1 本标准与IEC62372：2006的相应技术性差异及其原因一览表