• GB-T4833.1-2007
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 符号和缩略语
  • 5 主要技术要求
  • 5.1 基本性能
  • 5.2 技术指标
  • 6 试验要求
  • 6.1 试验仪器
  • 6.2 预热
  • 6.3 试验条件
  • 6.4 附加误差的试验
  • 7 试验方法
  • 7.1 最小和最大可测信号脉冲幅度
  • 7.2 道宽（变换系数）
  • 7.3 零点
  • 7.4 积分非线性
  • 7.5 微分非线性
  • 7.6 道轮廓的非矩形系数（选测）
  • 7.7 死时间
  • 7.8 最高可测脉冲频率
  • 7.9 死时间计数损失的校正误差（选测）
  • 7.10 系统通过能力（选测）
  • 7.11 计数率引起的道址相对漂移和能量分辨率的变化
  • 附录A （资料性附录） 多道分析器的性能参数和技术指标-多道分析器选择指南
  • 附录B （资料性附录） 峰位（模态道）的计算
  • 附录C （资料性附录） 测量局部微分非线性的补充方法
  • 附录D （资料性附录） 微分非线性的快速检测法
  • 附录E （资料性附录） 平均死时间辅助试验方法
  • 附录F （规范性附录） 计数率变化引起的道址相对漂移
  • 附录G （资料性附录） 本部分与ICE61342的关系
  • 图1 测量多道分析器的最小可测脉冲幅度和最大可测脉冲幅度的方框图
  • 图2 测量多道分析器的道宽、零点和积分非线性的方框图
  • 图3 零点、偏置和幅度拟合直线
  • 图4 测量局部微分非线性的滑移脉冲幅度随时间变化图
  • 图5 多道分析器微分非线性试验设备框图
  • 图6 用于确定微分非线性的谱形状
  • 图7 测量积分非线性时的误差函数E（m）
  • 图8 测量多道分析器微分非线性的闪烁计数法
  • 图9 测量死时间的框图
  • 图10 测量最高可测脉冲频率的框图
  • 图11 试验死时间校正误差的框图
  • 图12 计数率引起的道址相对漂移和能量分辨率变化的试验框图
  • 表1 多道分析器的基本性能
  • 表A.1 性能参数和技术指标