• GB-T13181-2002
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 通则
  • 4.1 测量环境条件
  • 4.2 测量系统
  • 4.3 测量要求
  • 4.4 安全要求
  • 5 光输出
  • 5.1 全吸收峰法或康普顿分布边缘法
  • 5.2 光电倍增管阳极电流法
  • 6 相对能量转换效率
  • 6.1 测量原理
  • 6.2 测量装置
  • 6.3 测量步骤
  • 6.4 数据处理
  • 7 固有幅度分辨率
  • 7.1 测量原理
  • 7.2 测量装置
  • 7.3 测量步骤
  • 7.4 数据处理
  • 8 闪烁有效衰减长度
  • 8.1 棒状闪烁体的测量方法
  • 8.2 板状闪烁体的测量方法
  • 8.3 圆柱型和直角棱柱闪烁体的测量方法
  • 9 放射光谱
  • 9.1 测量的波长范围
  • 9.2 测量原理
  • 9.3 测量装置
  • 9.4 测量步骤
  • 9.5 数据处理
  • 10 闪烁衰减时间
  • 10.1 一般要求
  • 10.2 直接示波法
  • 10.3 平均波形取样示波法
  • 10.4 单光子法
  • 11 温度效应
  • 11.1 测量原理
  • 11.2 测量装置
  • 11.3 测量方法
  • 附录A （资料性附录）脉冲性测量系统的非线性
  • 附录B （资料性附录）电流法测量系统的非线性
  • 附录C （资料性附录）测量系统的不稳定性
  • 附录D （规范性附录）闪烁体发射光谱与标样不同时，相对能量转换效率的修正
  • 附录E （资料性附录）塑料闪烁体的V值
  • 附录F （资料性附录）氟化钡闪烁体的发射光谱的测量的特殊要求
  • 附录G （资料性附录）一种实用的测量闪烁体温度效应的装置
  • 参考文献
  • 图1 闪烁体性能脉冲法测量装置框图
  • 图2 脉冲幅度分布的康普顿分布边缘图
  • 图3 光电倍增管固有分辨率测量装置方框图
  • 图4 ln（I-Ib）-D关系图
  • 图5 发射光谱测量装置方框图
  • 图6 直接示波法测量闪烁衰减时间的测量装置方框图
  • 图7 平均波形取样示波法测量闪烁衰减时间的测量装置方框图
  • 图8 单光子法测量闪烁衰减时间的测量装置方框图
  • 图9 单光子法测量系统响应分布的测量装置方框图
  • 图10 改变闪烁体温度的装置原理图
  • 图B.1 闪烁体性能电流法测量装置框图
  • 图G.1 测量闪烁体温度效应的装置方框图
  • 表1 参考条件和标准试验条件
  • 表2 放射源主要特性
  • 表3 常用闪烁体发射光谱测量的激发波长和测量样品
  • 表E.1 v系数值