• TB-T2340-2012
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 技术要求
  • 4.1 总则
  • 4.2 探头
  • 4.2.1 探头总则
  • 4.2.2 探头性能
  • 4.2.3 工作环境温度
  • 4.3 仪器
  • 4.3.1 脉冲重复频率
  • 4.3.2 衰减器
  • 4.3.3 动态范围
  • 4.3.4 放大器频率响应
  • 4.3.5 时基（水平）线性误差
  • 4.3.6 垂直线性误差
  • 4.3.7 阻塞范围
  • 4.3.8 抑制状态对测量结果的影响
  • 4.3.9 工作电压对探伤仪回波波高和探伤（报警）灵敏度影响
  • 4.3.10 数字探伤仪
  • 4.4 综合性能
  • 4.4.1 灵敏度余量
  • 4.4.2 距离幅度特性
  • 4.4.3 信噪比
  • 4.4.4 缺陷检出能力
  • 4.5 电磁兼容性
  • 4.6 工作环境温度
  • 4.7 温度稳定性
  • 4.8 振动性能
  • 4.9 倾跌性能
  • 4.10 密封性能
  • 4.11 安全性能
  • 5 检验方法
  • 5.1 检验条件
  • 5.2 探头
  • 5.2.1 物理性能
  • 5.2.2 回波频率
  • 5.2.3 回波频率相对误差
  • 5.2.4 折射角误差
  • 5.2.5 声轴偏斜角
  • 5.2.6 组合探头相对偏差
  • 5.2.7 保护靴（膜）衰减值
  • 5.2.8 分辨力
  • 5.2.9 灵敏度余量
  • 5.2.10 声束宽度N
  • 5.2.11 楔内回波幅度ΔS
  • 5.2.12 工作环境温度适用性
  • 5.3 仪器
  • 5.3.1 脉冲的重复频率
  • 5.3.2 衰减器
  • 5.3.3 动态范围
  • 5.3.4 放大器频率响应
  • 5.3.5 时基（水平）线性误差
  • 5.3.6 垂直线性误差
  • 5.3.7 阻塞范围
  • 5.3.8 抑制状态对测量结果的影响
  • 5.3.9 工作电压对探伤仪回波波高和探伤（报警）灵敏度影响
  • 5.3.10 数字探伤仪
  • 5.4 综合性能
  • 5.4.1 灵敏度余量
  • 5.4.2 距离幅度特性
  • 5.4.3 信噪比
  • 5.4.4 缺陷检出能力
  • 5.5 电磁兼容性
  • 5.6 环境温度试验
  • 5.7 温度稳定性
  • 5.8 振动性能
  • 5.9 倾跌性能
  • 5.10 密封性能
  • 5.11 安全性能
  • 6 检验规则
  • 7 标志、包装、运输、贮存及随机文件
  • 7.1 标志
  • 7.2 包装
  • 7.3 运输
  • 7.4 贮存
  • 7.5 随机文件
  • 附录A（规范性附录） WGT-3试块
  • 附录B（规范性附录） GTS-60C加长试块
  • 附录C（规范性附录） GTS-60试块
  • 附录D（规范性附录） CSK-IA型试块
  • 附录E（规范性附录） 直探头距离幅度特性测量用阶梯试块
  • 参考文献