• std_211885
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 一般要求
  • 4.1 应用原则
  • 4.2 检测档案
  • 4.3 检测人员
  • 5 质量等级
  • 5.1 等级分类
  • 5.2 质量等级的选择
  • 6 检验方法
  • 6.1 磁粉检测或渗透检测
  • 6.2 超声波检测或射线检测
  • 附录A（规范性附录） 铸钢件表面磁粉检测
  • A.1 方法原理
  • A.2 检验前的商定
  • A.3 磁化装置
  • A.4 磁化方法
  • A.5 磁化电流的种类
  • A.6 磁化的校验
  • A.7 显示漏磁场的检验介质
  • A.8 受检表面的准备
  • A.9 检测操作
  • A.10 缺陷显示的评定
  • A.11 退磁
  • A.12 检验报告
  • 附录B（规范性附录） 铸钢件渗透检测
  • B.1 检验的型式和目的
  • B.2 检验前的商定
  • B.3 渗透探伤剂及其检查
  • B.4 受检表面的准备
  • B.5 检验方法和操作
  • B.6 缺陷显示的评定
  • B.7 检验报告
  • 附录C（规范性附录）铸钢件超声波检测
  • C.1 检验原则与目的
  • C.2 适用范围
  • C.3 检验前的协商
  • C.4 受检铸件的准备
  • C.5 检验系统
  • C.6 探伤仪的调整
  • C.7 超声可探性的确认
  • C.8 检验的实施
  • C.9 缺陷的检验
  • C.10 测定缺陷大小
  • C.11 回波的评定
  • C.12 检验报告
  • 附录D（规范性附录） 铸钢件射线透照检测及其质量等级
  • D.1 像质级别
  • D.2 合约双方协定
  • D.3 设备与器材
  • D.4 透照方法
  • D.5 底片质量要求
  • D.6 底片观察
  • D.7 散射线屏蔽
  • D.8 缺陷影像质量评级方法
  • D.9 记录
  • 图1 铸件壁厚区域划分
  • 图2 表3 中缺陷的“单个面积”和“总面积”的说明
  • 图C.1 近场区长度和常用单晶片探头远场区声束直径（6dB）与声程关系的近似值
  • 图C.2 直探头测定深度方向的延伸尺寸t=d-（S₁+S₂）
  • 图C.3 斜探头测定垂直于受检面的延伸性缺陷的延伸尺寸和回波动态特陛曲线延伸尺寸t=（S₂-S₁）cosα
  • 图D.1 平板形工件照相布置
  • 图D.2 筒形工件照相布置（内透法）
  • 图D.3 筒形工件照相布置（双壁单影法）
  • 图D.4 筒形工件照相布置（双壁双影法）
  • 图D.5 500KV 以下 X 射线装置最高管电压与透照厚度的关系
  • 图D.6 多张胶片照相法
  • 图D.7 由工件表面至胶片的距离（L₂）和射线源尺寸（f）决定源至工件表面最短距离（L₁）的诺模图
  • 表1 按附录 A 作磁粉检测时最大允许缺陷显示（评定框尺寸：105mmx148mm）
  • 表2 按附录 B 进行渗透检测时最大允许缺陷显示（评定框尺寸：148mm×105mm）
  • 表3 按附录 C 进行超声波检测时缺陷的最大允许值
  • 表4 按附录 D 进行射线检测时缺陷的最大允许值
  • 表B.1 按渗透剂种类分类的检测方法
  • 表B.2 按显像方法分类的检测方法
  • 表B.3 检测操作程序
  • 表C.1 铁素体钢铸件超声渡检测记录限
  • 表D.1 胶片等级与增感屏
  • 表D.2 γ射线和 1MeV 以上 X 射线适用透照厚度
  • 表D.3 应识别的像质计最小线径
  • 表D.4 黑度范围
  • 表D.5 观片灯的适用范围
  • 表D.6 气孔、夹砂夹渣类缺陷评定框
  • 表D.7 缺陷尺寸与点数
  • 表D.8 不计点数的缺陷的最大尺寸
  • 表D.9 缩孔类缺陷评定框
  • 表D.10 不评定缺陷的最大长度或面积