• GBT16927.4-2014
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 3.1 测量系统
  • 3.2 测量系统组件
  • 3.3 刻度因数
  • 3.4 额定值
  • 3.5 有关动态特性的定义
  • 3.6 有关不确定度的定义
  • 3.7 有关测量系统试验的定义
  • 4 测量系统的使用和性能校验程序
  • 4.1 概述
  • 4.2 性能试验周期
  • 4.3 性能校核周期
  • 4.4 对性能记录的要求
  • 4.5 工作条件
  • 4.6 不确定度
  • 5 对认可测量系统及其组件的试验和试验要求
  • 5.1 一般要求
  • 5.2 校准——刻度因数的确定
  • 5.3 线性度试验
  • 5.4 动态特性
  • 5.5 短时稳定性
  • 5.6 长期稳定性
  • 5.7 环境温度影响
  • 5.8 邻近回路电流影响
  • 5.9 软件影响
  • 5.10 不确定度计算
  • 5.11 时间参数测量的不确定度计算（仅对冲击电流）
  • 5.12 干扰试验
  • 5.13 耐受试验
  • 6 稳态直流电流
  • 6.1 适用范围
  • 6.2 术语和定义
  • 6.3 试验电流
  • 6.4 试验电流的测量
  • 6.5 纹波幅值的测量
  • 6.6 试验程序
  • 7 稳态交流电流
  • 7.1 适用范围
  • 7.2 术语和定义
  • 7.3 试验电流
  • 7.4 试验电流的测量
  • 7.5 试验程序
  • 8 短时直流电流
  • 8.1 适用范围
  • 8.2 术语和定义
  • 8.3 试验电流
  • 8.4 试验电流的测量
  • 8.5 试验程序
  • 9 短时交流电流
  • 9.1 适用范围
  • 9.2 术语和定义
  • 9.3 试验电流
  • 9.4 试验电流的测量
  • 9.5 试验程序
  • 10 冲击电流
  • 10.1 适用范围
  • 10.2 术语和定义
  • 10.3 电流试验
  • 10.4 试验电流的测量
  • 10.5 试验程序
  • 11 高压绝缘性能试验中的电流测量
  • 11.1 适用范围
  • 11.2 试验电流的测量
  • 11.3 试验程序
  • 12 标准测量系统
  • 12.1 概述
  • 12.2 标准测量系统的校准周期
  • 附录A（资料性附录） 测量不确定度
  • 附录B（资料性附录） 大电流测量不确定度计算示例
  • 附录C（资料性附录） 阶跃响应测量
  • 附录D（资料性附录） 卷积法确定阶跃响应测量的动态性能
  • 附录E（资料性附录） 对特定波形的参数限值规定
  • 附录F（资料性附录） 电阻元件的温升
  • 附录G（资料性附录） 短时交流电流有效值的确定
  • 附录H（资料性附录） 国标和IEC大电流试验示例
  • 参考文献