• GBT30110-2013
  • 前言
  • 1 范围
  • 2 规范性引用文件
  • 3 术语和定义
  • 4 符号和说明
  • 5 材料参数测试方法
  • 5.1 组分与厚度测试
  • 5.2 表面晶向测试
  • 5.3 晶格常数测试
  • 5.4 表面平整度测试
  • 5.5 表面粗糙度测试
  • 5.6 材料电学参数测试
  • 5.7 少数载流子寿命测试
  • 5.8 位错密度测试
  • 5.9 表面缺陷密度测试
  • 5.10 X射线双晶衍射半峰宽测试
  • 5.11 X射线形貌测试
  • 5.12 材料性能非均匀性测试
  • 6 空间环境下材料抗辐照性能测试方法
  • 6.1 试验条件
  • 6.2 材料抗辐照性能參数测试
  • 7 材料参数的精密度、精确度和不确定度测试方法
  • 8 测试设备要求
  • 附录A(规范性附录)材料的光学常数
  • 附录B(规范性附录)纵向组分梯度分布的碲镉汞外延材料透过率Ta+和反射率Ra-的计算
  • 附录C(资料性附录)激光干涉仪原理
  • 附录D(资料性附录)位错密度测量值的标准均方差与腐蚀坑计数平均值的关系
  • 参考文献